X射線(xiàn)衍射晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變的測(cè)定

若多晶材料的晶粒無(wú)畸變、足夠大，理論上其粉末衍射花樣的譜線(xiàn)應(yīng)特別鋒利，但在實(shí)際實(shí)驗(yàn)中，這種譜線(xiàn)無(wú)法看到。這是因?yàn)閮x器因素和物理因素等的綜合影響，使純衍射譜線(xiàn)增寬了。純譜線(xiàn)的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶體點(diǎn)陣中的主要缺陷決定，故對(duì)線(xiàn)形作適當(dāng)分析，原則上可以得到上述影響因素的性質(zhì)和尺度等方面的信息。

在晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變測(cè)定過(guò)程中，需要做的工作有兩個(gè)：⑴ 從實(shí)驗(yàn)線(xiàn)形中得出純衍射線(xiàn)形，最普遍的方法是傅里葉變換法和重復(fù)連續(xù)卷積法。⑵ 從衍射花樣適當(dāng)?shù)淖V線(xiàn)中得出晶粒尺寸和缺陷的信息。這個(gè)步驟主要是找出各種使譜線(xiàn)變寬的因素，并且分離這些因素對(duì)寬度的影響，從而計(jì)算出所需要的結(jié)果。主要方法有傅里葉法、線(xiàn)形方差法和積分寬度法。

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